兒童智力檢測(cè)儀器的主要功能是對(duì)0-16歲兒童的智商進(jìn)行檢測(cè)。
測(cè)評(píng)方法： 1、丹佛智能測(cè)試（DDST）：可對(duì)0--6歲嬰幼兒進(jìn)行智力測(cè)試。
2、圖片詞匯測(cè)試（PPVT）：對(duì)3歲半至9歲2個(gè)月的兒童進(jìn)行智力測(cè)評(píng)。
3、繪人智能測(cè)試（MOD）：測(cè)試4--12歲兒童智商的成熟程度。
4、聯(lián)合型瑞文稿測(cè)試（CRT-C3）：2007年新修定版本。
城鎮(zhèn)為6歲7個(gè)月--16歲6個(gè)月
非城鎮(zhèn)為6歲7個(gè)月--14歲6個(gè)月
5、儀器另有世衛(wèi)組織通用的50余種智力檢測(cè)方法
兒童智力檢測(cè)儀測(cè)試時(shí)間
DDST測(cè)試時(shí)間一般在10～30分鐘；
PPVT根據(jù)被測(cè)試兒童的實(shí)際年齡而定，一般長(zhǎng)為20分鐘；
MOD 測(cè)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間為20分鐘，兒童多在10分鐘之內(nèi)完成；
CRT-C3測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間為20～40分鐘，大部分兒童可在20分鐘之內(nèi)完成
兒童智力檢測(cè)儀標(biāo)準(zhǔn)配置：
A型儀器：軟件包：（包括丹佛智能測(cè)試、圖片詞匯測(cè)試、繪人智能測(cè)試、聯(lián)合型瑞文稿測(cè)試），臺(tái)車，音響設(shè)備，攝像設(shè)備，品牌電腦一套（包括電腦、觸摸式液晶顯示器、打印機(jī)）
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