EFX-1型兒童智力測(cè)試儀使用的常模和測(cè)試時(shí)間是根據(jù)國(guó)內(nèi)和國(guó)際*新版本來(lái)版定的，當(dāng)國(guó)內(nèi)和國(guó)際上軟件有更新時(shí)，我們的產(chǎn)品也會(huì)及時(shí)更新，并免費(fèi)為老客戶(hù)更新，不收取任何費(fèi)用。

使用的常模：

  1.丹佛智能測(cè)試(DDST)為我國(guó)修訂，國(guó)內(nèi)常模。共105個(gè)項(xiàng)目，測(cè)量大動(dòng)作、語(yǔ)言、精細(xì)動(dòng)作-適應(yīng)性和個(gè)人-社會(huì)行為四大

             領(lǐng)域。主要用作智力篩選，可早期發(fā)現(xiàn)兒童存在發(fā)育遲滯或異常的可能性。

  2．兒童圖片詞匯測(cè)試(PPVT)為我國(guó)修訂，國(guó)內(nèi)常模。修訂版為120張圖片，每張圖片代表一個(gè)詞匯。

                通過(guò)聽(tīng)覺(jué)詞匯（語(yǔ)言）來(lái)測(cè)試兒童的智力水平。

  3．兒童聯(lián)合型瑞文測(cè)驗(yàn)( CRT-C3)為我國(guó)*新修訂，國(guó)內(nèi)常模。共6組72張圖片。瑞文測(cè)試是一種非文字智力測(cè)驗(yàn)，

                通過(guò)圖形的辨別、組合、系列關(guān)系、邏輯思維能力等測(cè)試智力水平。

  4．繪人智能測(cè)驗(yàn)(MOD)為我國(guó)修訂，國(guó)內(nèi)常模。該方法是測(cè)定兒童智力的成熟程度。

                 繪人智商與韋氏及斯坦福比奈量表所得智商的相關(guān)系數(shù)為0.55～0.80，相關(guān)較為密切。

測(cè)試時(shí)間：

      DDST測(cè)試時(shí)間一般在10～30分鐘；

      PPVT根據(jù)被測(cè)試兒童的實(shí)際年齡而定，*長(zhǎng)為20分鐘；

      MOD 測(cè)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間為20分鐘，兒童多在10分鐘之內(nèi)完成；

      CRT-C3測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間為20～40分鐘，大部分兒童可在20分鐘之內(nèi)完成

         兒童智力測(cè)試儀使用的常模和測(cè)試時(shí)間是根據(jù)國(guó)內(nèi)和國(guó)際*新版本來(lái)版定的，當(dāng)國(guó)內(nèi)和國(guó)際上軟件有更新時(shí)，我們的產(chǎn)品也會(huì)及時(shí)更新，并免費(fèi)為老客戶(hù)更新，不收取任何費(fèi)用。兒童智力測(cè)試儀使用的常模和測(cè)試時(shí)間